Đề tài Phương pháp nhiễu xạ rơnghen và phương pháp đẳng nhiệt hấp phụ – khử hấp phụ nitơ

Trong phân tích cấu trúc tinh thể bằng tia X việc ghi nhận hướng và cường độ tia nhiễu xạ có ý nghĩa quyết định đối với việc xác định các thông số của mạng tinh thể cũng như việc xác định các toạ độ của nguyên tử trong không gian tinh thể.

Có nhiều phương pháp ghi nhận các tia nhiễu xạ. Phương pháp đầu tiên và phổ biến nhất là ghi nhận bằng phim ảnh, giấy ảnh hay kính ảnh, trong đó chủ yếu là phim ảnh. Phương pháp thứ 2 dùng các thiết bị kiểu máy đếm Geiger có kèm theo thiết bị khuếch đại tín hiệu. Gần đây, còn ghi nhận cách dùng tinh thể thể hiện hiệu ứng quang-electron. Ngày nay, với sự phát triển mạnh của kỹ thuật điện tử và tự động hoá, hai phương pháp sau có nhiều ưu điểm vì chúng cho phép ghép nối tiếp dễ dang với máy tính và có thể xử lý nhanh các dữ liệu.