Lời cam đoan i
Mục lục iii
Danh mục các ký hiệu và chữ viết tắt v
Danh mục các bảng viii
Danh mục các hình vẽ, đồ thị ix
MỞ ĐẦU 1
Chương 1. TỔNG QUAN 7
1.1 Hệ đo nơtron 7
1.1.1 Tổng quan các hệ đo nơtron 7
1.1.2 Đo nơtron với các ống đếm khí 9
1.1.3 Đo nơtron với các đetectơ nhấp nháy 9
1.1.4 Hệ đo nơtron sử dụng kỹ thuật tương tự 11
1.1.5 Hệ đo nơtron sử dụng kỹ thuật số 12
1.2 Loại trừ ảnh hưởng của gamma trong các phổ đo nơtron 13
1.2.1 Loại trừ gamma trong các ống đếm khí 14
1.2.2 Loại trừ gamma cho các đetectơ nhấp nháy 15
1.3 Một số phương pháp phân biệt xung nơtron/gamma trong đetectơ
nhấp nháy 17
1.3.1 Kỹ thuật phân biệt dựa vào thời gian vượt ngưỡng 18
1.3.2 Kỹ thuật phân biệt dựa vào độ dốc xung 19
1.3.3 Kỹ thuật phân biệt dựa vào diện tích đuôi xung 20
1.3.4 Phương pháp phân biệt dựa vào khớp với xung chuẩn 21
1.3.5 Phương pháp nhận dạng mẫu 22
1.3.6 Phương pháp phân biệt dùng biến đổi wavelet 23
1.4 Đánh giá hiệu quả phân biệt dạng xung của các phương pháp 26
1.5 Kỹ thuật DSP và công nghệ FPGA trong thiết kế, chế tạo hệ đo
nơtron 27
Kết luận chương 1 29
Chương 2. THỰC NGHIỆM 31
2.1 Thiết kế và chế tạo đetectơ nhấp nháy đo nơtron – gamma sử dụng
nhấp nháy lỏng EJ-301 31
2.1.1 Thiết kế vỏ đầu nhấp nháy EJ-301 31
2.1.2 Thiết kế vỏ của đetectơ 32
2.1.3 Ống nhân quang 33
2.1.4 Tiền khuếch đại (TKĐ) 35
2.2 Xây dựng hệ đo nơtron sử dụng đetectơ EJ-301 40iv
2.2.1 Xây dựng phần cứng hệ đo 40
2.2.2 Xây dựng phần mềm hệ đo 48
2.3 Xây dựng các thuật toán phân biệt dạng xung nơtron/gamma 57
2.3.1 Phương pháp thời gian vượt ngưỡng 58
2.3.2 Phương pháp độ dốc xung 59
2.3.3 Phương pháp diện tích 60
2.3.4 Phương pháp nhận dạng mẫu 62
2.4 Phương pháp phân biệt dạng xung dựa vào xung tham khảo 63
2.4.1 Xây dựng xung tham khảo nơtron và gamma 63
2.4.2 Phương pháp xung tham khảo 64
2.4.3 Loại bỏ các xung chồng chập 66
2.5 Đánh giá hệ đo 67
2.5.1 Đánh giá đetectơ 67
2.5.2 Đánh giá hệ đo nơtron DRS4 77
Kết luận chương 2 81
Chương 3. KẾT QUẢ VÀ THẢO LUẬN 82
3.1 Kết quả thiết kế và chế tạo đetectơ EJ-301 đo nơtron-gamma 82
3.1.1 Các tham số cơ bản của đetectơ: 82
3.1.2 Độ tuyến tính của đetectơ: 84
3.1.3 Chuẩn năng lượng 85
3.1.4 Độ nhạy của đetectơ: 86
3.1.5 Hiệu suất ghi của đetectơ 86
3.1.6 Kết quả sử dụng các phương pháp phân biệt dạng xung
nơtron/gamma cho đetectơ EJ-301 87
3.2 Kết quả đạt được của phương pháp xung tham khảo trên đetectơ EJ-
301 91
3.3 Kết quả thực hiện trên hệ đo nơtron nhanh và gamma 94
3.3.1 Chương trình MCA_DRS4 94
3.3.2 So sánh hiệu quả phân biệt dạng xung 104
3.3.3 So sánh phổ nơtron/gamma đo được với một số nghiên cứu khác 104
KẾT LUẬN 106
NHỮNG VẤN ĐỀ CẦN NGHIÊN CỨU TIẾP THEO CỦA LUẬN ÁN 108
DANH MỤC CÔNG TRÌNH KHOA HỌC CỦA TÁC GIẢ LIÊN QUAN
ĐẾN LUẬN ÁN 109
TÀI LIỆU THAM KHẢO 110
135 trang |
Chia sẻ: trungkhoi17 | Lượt xem: 492 | Lượt tải: 1
Bạn đang xem trước 20 trang tài liệu Luận án Thiết kế, chế tạo hệ tách xung Nơtron và Gamma sử dụng kỹ thuật xử lý tín hiệu số - Phan Văn Chuân, để xem tài liệu hoàn chỉnh bạn click vào nút DOWNLOAD ở trên
n khuếch đại
Các xung từ R9420 có biên độ tín hiệu khá lớn trong dải đo nơtron, nhưng
hình dạng xung chưa phù hợp cho việc truyền và xử lý xung từ đetectơ đến bộ số
hóa. Một xung ra tiêu biểu trên anode của R9420 khi qua điện trở tải 50được biểu
diễn trên hình 2.6, sườn sau của xung tăng rất nhanh và phần đuôi xung bị dao
động. Có thể nhận thấy, các thành phần phân rã chậm đóng góp ở phần đuôi xung
cùng với các dao động nhiễu gây nhiều khó khăn cho việc phân biệt dạng xung
nơtron/gamma thu được từ đetectơ. Bên cạnh đó, sườn tăng và giảm của xung quá
ngắn (< 10 ns) làm xuất hiện các xung phản xạ khi truyền tín hiệu xung từ đetectơ
về bộ số hóa thông qua cáp tín hiệu [1]. Các xung phản xạ khi kết hợp với xung
chính làm biến dạng xung, gây khó khăn trong việc xác định biên độ xung. Mặt
khác, vì các xung đo trực tiếp từ PMT có sườn tăng rất ngắn nên biên độ không
tuyến tính với năng lượng chất nhấp nháy nhận từ bức xạ. Điều này là bởi thành
phần phân rã nhanh chưa kịp đóng góp hết vào việc hình thành biên độ mà phần còn
lại đóng góp vào đuôi xung.
36
Hình 2.6 Một xung tiêu biểu từ anode của PMT được lấy mẫu ở tần số 2,5 GSPS và
băng thông 2,5 GHz.
Với những bất lợi như trên, việc gắn thêm một TKĐ cho đetectơ nhấp nháy là
cần thiết. TKĐ có các nhiệm vụ chính là:
1) Tạo biên độ xung đối với vùng năng lượng quan tâm từ 0 đến 5000 keVee nằm
trong khoảng cho phép của bộ số hóa tốc độ cao (0 ÷ 1V).
2) Tạo dạng xung thuận lợi cho việc truyền tín hiệu đến bộ số hóa bằng cách hình
thành lại xung có thời gian tăng của sườn trước lớn hơn 10 ns để tránh hiệu ứng
phản xạ xung khi truyền trên cáp đồng trục có chiều dài trên 2 m.
Để tạo dạng xung thuận lợi trong việc truyền, số hóa và phân biệt dạng xung ở
tốc độ cao, các xung được tích phân với thời hằng đủ nhỏ để các thành phần phân rã
chậm tạo ra sự khác biệt tại phần đuôi xung. Vì tín hiệu qua PMT cũng được
khuếch đại (~ 55,05 10 ), nên tín hiệu tại anode đã khá lớn. Việc sử dụng TKĐ nhạy
điện tích trong trường hợp này sẽ không phù hợp do tín hiệu được khuếch đại quá
biên độ nguồn nuôi gây bão hòa xung. Vì vậy trong trường hợp này, sử dụng TKĐ
nhạy điện áp là thích hợp hơn. Sử dụng TKĐ nhạy điện áp cho phép dễ dàng điều
chỉnh hệ số khuếch đại nằm trong dải hoạt động của bộ số hóa tương ứng với vùng
năng lượng đầu vào quan tâm.
TKĐ nhạy điện áp được thiết kế gồm bốn tầng được mô tả như hình 2.7, bảo
đảm một số yêu cầu sau:
37
Tốc độ đáp ứng của TKĐ phải cao vì các đặc trưng về thời gian của xung cần
phải được bảo toàn, để những đặc trưng khác nhau của xung nơtron và gamma
thể hiện ở phần đuôi của xung.
Đóng góp của nhiễu vào xung phải nhỏ để không ảnh hưởng nhiều đến đặc trưng
khác nhau của xung vì các đặc trưng khác nhau giữa xung nơtron và gamma rất
nhỏ.
Bảng 2.2 Các tham số quan trọng của THS3202 [65].
Tham số Giá trị
Băng thông 2 GHz
Tốc độ tăng điện áp cho phép 9000 /V s
Thời gian tăng/giảm 0,45 ns
Điện áp nguồn đơn
Điện áp nguồn đôi
6,5 15V
7,5V
Nhiễu điện áp đầu vào 1,65 /nV Hz
Nhiễu dòng đầu vào không đảo 13,4 /pA Hz
Nhiễu dòng đầu vào đảo 20 /pA Hz
Với các yêu cầu đó, bộ khuếch đại thuật toán THS3202 được sử dụng trong
thiết kế TKĐ. Các tham số quan trọng của THS3202 được trình bày trên bảng 2.2.
Sơ đồ TKĐ kết nối với PMT được trình bày trên hình 2.7, thiết kế gồm các tầng
sau:
1) Tầng hình thành xung điện áp: Tín hiệu dòng từ anode của PMT được chuyển
thành tín hiệu điện áp thông qua tầng RC. Hàm truyền của tầng được xác định theo
biểu thức (2.1) [66].
1 1
1
1
A
1
out
in
V
G
I s
(2.1)
Trong đó 1 1A R và 1 1 1R C .
38
2) Tầng khuếch đại: Sử dụng mô hình bộ khuếch đại đảo với OP-AMP THS3202 có
tốc độ cao và băng thông lớn. Thời gian đáp ứng của THS3202 rất nhỏ, do đó không
ảnh hưởng nhiều đến thời hằng của TKĐ. Tầng khuếch đại có hàm truyền được xác
định theo (2.2) [65,66].
2 2
1
AG
s
(2.2)
Trong đó 32
2
A
R
R
.
3) Tầng hình thành xung: Khối tích phân Sallenky được sử dụng để hình thành
xung, lọc thành phần nhiễu tần số cao và nâng cao tỉ số tín hiệu trên nhiễu (SNR)
[21,65]. Hàm truyền của tầng hình thành xung được xác định theo biểu thức (2.3).
3
2 3
2 3
3
3
1 /
( )
3
1 /
G s A
A
s s
(2.3)
Trong đó 8 73
8
R R
A
R
và 3 RC .
4) Tầng đầu ra và phối hợp trở kháng với cáp: Tầng lọc thông thấp RC loại bỏ
thành phần tần số cao và phối hợp trở kháng với cáp nối tín hiệu. Hàm truyền được
tính theo biểu thức (2.4).
3
3
1
1
G
s
(2.4)
Trong đó 3 9 4R C .
Từ (2.1), (2.2), (2.3) và (2.4), hàm truyền của bộ khuếch đại được xác định
theo biểu thức (2.5). Hàm (2.5) lọc bỏ tần số cao với ngưỡng cắt -3dB với các tham
số linh kiện như bảng 2.3 đạt được là 14,73MHz.
1 2 31 2 3 2
3 3 3 1
A
. .
( (A 3) 1)( 1)( 1)
A A
G G G G
s s s s s
(2.5)
39
5V
5V
U1
U2
1R
2R
3R
4R
5R
6R
7R
8R
9R
10R4C
1C 2
C
3C
Input Output
Tầng chuyển đổi xung
dòng thành xung áp
Tầng khuếch đại Tầng đầu ra và phối hợp trở
kháng với đường truyền
Tầng hình thành xung
5V
5V
Hình 2.7 Sơ đồ tiền khuếch đại cho đetectơ EJ-301.
Hình 2.8 Mạch tiền khuếch đại sử dụng THS3202.
Bảng 2.3 Các tham số linh kiện sử dụng trong mạch TKĐ.
Linh kiện Giá trị (sai số) Linh kiện Giá trị (sai số)
R1 49,9Ω (1%) R8 330 Ω (1%)
R2 49,9Ω (1%) R9 49,9Ω (1%)
R3 1,5kΩ (1%) R10 720 Ω (1%)
R4 49,9Ω (1%) C1 10 pF (5%)
R5 470 Ω (1%) C2 10 pF (5%)
R6 470 Ω (1%) C3 10 pF (5%)
R7 1,0kΩ (1%) C4 220 pF (5%)
40
2.2 Xây dựng hệ đo nơtron sử dụng đetectơ EJ-301
2.2.1 Xây dựng phần cứng hệ đo
Phần cứng hệ đo nơtron và gamma sử dụng đetectơ nhấp nháy được thiết kế
dựa trên mô hình của hệ ghi đo bức xạ bằng kỹ thuật số. Cấu hình hệ đo được trình
bày trên hình 2.9; gồm ba phần chính: đetectơ EJ-301, bộ số hóa tốc độ cao và hệ
xử lý xung và lưu trữ.
EJ301 PMT Preamp
HV power
supply
Detector
EJ-301
Computer
cable 50 Ohm
DC Power
Supply
Fast ADC
DRS4
Evaluation Board
FPGA
USB
Hình 2.9 Sơ đồ cấu trúc phần cứng hệ đo nơtron bằng kỹ thuật số sử dụng
đetectơ EJ-301.
1) Đetectơ
Đetectơ EJ-301 đã được thiết kế để đo nơtron và gamma với các tham số
chính khảo sát được trên nguồn gamma như sau:
Vùng biên độ xung ra tuyến tính: 0 ÷ 2700 mV;
Thời gian tăng của xung: ~12,4 ns;
Thời gian giảm của xung: ~31 ns;
Độ nhạy của đetectơ ở giá trị cao áp 1200V: 190,3 /mV MeVee .
Các tham số của xung ra từ đetectơ đã được thiết kế để phù hợp trong ghép nối
trực tiếp đến các bộ số hóa tốc độ cao. Hình 2.10 trình bày một xung gamma đặc
trưng từ đetectơ EJ-301 được lấy mẫu trên DPO7254C.
41
Hình 2.10 Dạng xung gamma từ đetectơ EJ-301 được lấy mẫu trên DPO7254C.
2) Bộ số hóa
a) Yêu cầu trong hệ đo nơtron-gamma
Bộ số hóa có nhiệm vụ số hóa các xung tương tự thành dạng dữ liệu số, sao
cho khi dựng lại xung dưới dạng số thì các đặc trưng cần thiết của xung vẫn được
bảo toàn. Do các đặc trưng về thời gian của xung rất ngắn, mặt trước của xung kéo
dài khoảng 20 ns, trong khi phân rã của các thành phần chậm của xung kéo dài
khoảng 300 ns. Do đó, khoảng thời gian cần quan tâm cho mỗi xung sẽ kéo dài từ
400 ÷ 600 ns. Bên cạnh đó, các đặc trưng hình dạng khác nhau của xung
nơtron/gamma rất nhỏ nằm ở phần đuôi xung, nên yêu cầu về tốc độ số hóa và độ
phân giải biên độ tương đối cao. Các khảo sát đã thực hiện trên DPO 7254C cho
thấy khi tốc độ lấy mẫu nhỏ hơn 500 MSPS, khả năng phân biệt dạng xung
nơtron/gamma kém hiệu quả. Điều này cũng đã được khẳng định trong các nghiên
cứu phân biệt dạng xung nơtron/gamma bằng kỹ thuật số của các tác giả khác
[21,56,67]. Do đó, để hiệu quả phân biệt nơtron và gamma tốt thì các bộ số hóa
trong hệ đo cần có tần số lấy mẫu lớn hơn 500 MSPS. Kết quả này là phù hợp với
các tài liệu tham khảo [6,8,10], trong đó hiệu quả phân biệt dạng xung
nơtron/gamma phụ thuộc vào độ phân giải của bộ số hóa.
42
Cấu trúc bộ số hóa được thiết kế gồm hai phần: Bộ biến đổi ADC tốc độ cao
và bản mạch điều khiển, xử lý, lưu trữ/ truyền số liệu số hóa. Các bộ ADC với cấu
trúc đường ống đã cho phép biến đổi sang số lên đến tốc độ trên 500 MSPS. Các bộ
ADC này có thể ghép với FPGA với mục đích điều khiển ADC và lưu trữ / truyền
số liệu. Việc kết nối với FPGA thường được thực hiện qua chuẩn LVDS (Low-
Voltage Differential Signaling) [68]. Tuy nhiên, việc kết nối ADC tốc độ cao với
FPGA thông qua cáp LVDS thường gặp một số vấn đề về nhiễu trong quá trình
truyền/nhận. Do đó, ADC tốc độ cao kết hợp với FPGA trên một bản mạch duy nhất
thường được sử dụng trong xây dựng các hệ đo bức xạ bằng kỹ thuật số [69,70].
Các module dạng này như: XMC-1131 của công ty Flexcom, gồm một ADC 250
MSPS – 14 bit kết hợp với FPGA Xilinx Virtex-5; XMC-1151 sử dụng ADC
1,8GSPS-12 bit kết hợp với Xilinx® Virtex®-6 SX315T; ADX2-EVM-800/14 của
Texas Instruments sử dụng 2 ADC 400MSPS-14 bit kết hợp với FPGA Xilinx
Virtex-5. Sử dụng các khối trên có ưu điểm là tốc độ lấy mẫu nhanh, liên tục, đồng
thời có thể sử dụng FPGA trên bản mạch để xây dựng hệ đo hoàn chỉnh [71,72].
Tuy nhiên, giá của các thiết bị này là một trở ngại trong việc nghiên cứu và triển
khai rộng rãi các hệ đo.
Gần đây, một phương pháp tiếp cận mới cho quá trình chuyển đổi từ tín hiệu
tương tự thành số là sử dụng mảng tụ chuyển mạch (SCA: switched-capacitor
arrays) kết hợp với ADC kiểu đường ống. Các bản mạch số hóa tốc độ cao sử dụng
SCA, ADC và FPGA đã được viện nghiên cứu PSI (Paul Scherrer Institute) phát
triển và DRSx là một giải pháp thay thế cho các ADC nhanh trực tiếp đắt tiền trong
thiết kế và xây dựng hệ đo bức xạ [73,74]. Chi phí để xây dựng 8 kênh ADC với tốc
độ 5 GSPS ở mức dưới 2000USD, trong khi sử dụng các mạch ADC nhanh trực tiếp
kết hợp với FPGA có tốc độ tương đương có chi phí trên 10.000 USD. Bản mạch
DRS4 sử dụng phương pháp lấy mẫu và lưu trữ tín hiệu ở tốc độ cao vào mảng tụ,
sau đó sử dụng ADC tốc độ thấp hơn để số hóa dữ liệu từ mảng tụ [73]. Do đó,
phương pháp này phù hợp với các hệ đo nơtron cần xử lý các xung ngắn đòi hỏi tốc
độ số hóa cao. Vì lý do đó, bản mạch số hóa DRS4 rất thích hợp cho việc số hóa các
43
xung từ đetectơ EJ-301, các xung này có chiều dài ngắn (~600ns) và cần tốc độ số
hóa cao.
b) Bản mạch DRS4
Quá trình số hóa của bản mạch DRS4 cơ bản dựa trên bộ lấy và giữ mẫu tương
tự DRS4 kết hợp với ADC 9245 - 14 bit và FPGA (Spartan®-3A). Hình 2.11 mô tả
bản mạch DRS4 V5.1 với 4 kênh vào. Sơ đồ khối của bản mạch DRS4 được mô tả
trên hình 2.12. Các tham số chính là:
Đầu vào: bốn đầu vào tương tự hoạt động độc lập trong vùng điện áp 0 ÷ 1,0V
hoặc -0,5 ÷ 0,5V. Trong đó điện áp giới hạn đầu vào lớn nhất là 2,5V, trở kháng
các kênh vào là 50 và băng thông 700MHz (-3dB).
Biến đổi ADC: độ phân giải cho mỗi kênh vào là 14 bit (16384 kênh) tương
đương 0,061mV/ kênh.
Tần số lấy mẫu: cho phép cài đặt trong vùng từ 700 MSPS đến 5GSPS. Chu kỳ
lấy mẫu nhỏ nhất 0,2ns.
Kích thước mẫu: độ dài mỗi xung được giữ trên DRS4 có thể thiết lập 1024 hoặc
2048 mẫu.
Khả năng lập trình: FPGA Spartan®-3A với mã nguồn mở cho phép tái lập trình
để thu nhận và xử lý xung.
Giao tiếp: được kết nối với máy tính qua cổng USB 2.0 để điều khiển và nhận số
liệu đo.
44
Hình 2.11 Bản mạch DRS4 V5.1.
A
n
a
lo
g
i
n
p
u
t
b
u
ff
e
r
In
p
u
t
a
n
a
lo
g
Spartan 3
FPGA
DAC
DRS4 ADC
USB
interface
EEPROMClock
Temperature
Sensor
COMP
Control
Voltage reference
Hình 2.12 Cấu trúc bản mạch DRS4 V5.
Vi mạch DRS4: Cấu tạo DRS4 gồm 9 mảng tụ được điều khiển để giữ mẫu
“analog” theo nguyên lý “domino” [73] và bộ điều khiển. Mỗi mảng tụ chứa 1024
tụ điện (150 fF) được kết nối tương ứng với một kênh vào. Trong một chu trình giữ
mẫu, các tụ điện được mở để nạp lần lượt theo hiệu ứng “domino” và giữ lại mức
điện áp đã nạp [75]. Chu kỳ đóng mở giữa các ô nhớ được phép cài đặt trong
khoảng 0,2 ÷ 2ns [73,75]. Sau một chu kỳ lấy mẫu, 1024 mẫu được giữ trong mảng
45
tụ. Trong chu kỳ đọc dữ liệu, DRS4 được điều khiển để đưa lần lượt từng mẫu cho
ADC biến đổi với tốc độ chậm hơn (33 MSPS).
c) Chuẩn hóa mẫu
Cấu trúc vào/ra của mỗi ô nhớ khác nhau, do đó giá trị của các mẫu đọc được
trên các ô nhớ không đồng nhất [76]. Các yếu tố làm sai lệch tín hiệu lấy mẫu gồm
sai lệch về điện áp và sai lệch thời gian lấy mẫu. Do đó, cần các hiệu chỉnh điện áp
và thời gian để giảm thăng giáng cho tín hiệu đo.
(a)
1t 2t 3t 4t 5t 6t 7t 8t
(b)
Hình 2.13 Cấu trúc mảng giữ mẫu và quá trình lấy mẫu của vi mạch DRS4 [73].
+ Hiệu chỉnh điện áp offset: Điện áp trên mỗi ô nhớ được đọc thông qua một bộ
đệm ra riêng. Trong khi mỗi bộ đệm lại có hệ số khếch đại và mức điện áp offset
khác nhau (mức offset ngẫu nhiên có thể dao động trong khoảng 20 mV), do đó các
mức điện áp trên các ô đọc được sẽ khác nhau mặc dù mức điện áp trên các ô là như
nhau. Mức điện áp offset trên các ô nhớ được xác định bằng cách đo điện áp tương
ứng của các ô nhớ khi đầu vào được nối với 0V. Mảng điện áp offset, tương ứng với
1024 ô nhớ trên mỗi kênh, sau khi xác định được sử dụng để hiệu chỉnh giá trị đo
trên mỗi kênh tương ứng.
+ Hiệu chỉnh độ lợi: Độ lợi trên mỗi bộ đệm ra của các ô nhớ là khác nhau, do đó
cần được hiệu chỉnh cho các giá trị khi đo. Sai lệch độ lợi của các bộ đệm ra được
46
xác định bằng cách đặt mức điện áp 800mV ở đầu vào cho tất cả các ô nhớ. Mảng
giá trị đọc được trên các ô nhớ ở trạng thái này được sử dụng để hiệu chỉnh cho các
giá trị khi đo.
+ Hiệu chỉnh thời gian: Do khoảng thời gian lấy mẫu giữa các ô nhớ khác nhau nên
cần được hiệu chỉnh để thông tin về thời gian lấy mẫu được chính xác. Khoảng thời
gian giữa hai lần lấy mẫu liên tiếp nhau của các ô nhớ trong DRS4 không giống
nhau (hình 2.13b). Với mỗi tần số lấy mẫu, DRS4 cần được chuẩn thời gian lấy mẫu
giữa các ô nhớ liên tiếp nhau. Trong quá trình này, một mảng gồm 1024 phần tử
tương ứng với khoảng thời gian lấy mẫu của các “cell” được lưu trữ trong
EEPROM (DTCell). Với mỗi xung số hóa khi dựng lại, DTCell được sử dụng để
tính ra thời gian cho mỗi điểm số hóa. Hình 2.14 trình bày phân bố giá trị thu được
của DTCell khi bản mạch DRS4 được chuẩn hóa ở tốc độ lấy mẫu 1GSPS; giá trị
trung bình tại điểm 1ns và độ lệch chuẩn là 0,223ns.
Hình 2.14 Phân bố khoảng thời gian giữa hai lần lấy mẫu liên tiếp ở tốc độ 1GSPS
của DRS4.
47
Hình 2.15 Lưu đồ thuật toán hiệu chỉnh điện áp và thời gian cho một kênh trên
DRS4.
Trong lưu đồ thuật toán hình 2.15, các mảng hiệu chỉnh điện áp CellOffset(),
CellGain() và mảng hiệu chỉnh thời gian CellDT() được đọc từ DRS4 trong lúc khởi
động chương trình. Sau quá trình hiệu chuẩn điện áp và thời gian, mỗi xung được
biểu diễn bằng một mảng gồm 1024 phần tử; mỗi phần tử gồm hai trường: N[j]
mang thông tin về biên độ và t[j] mang thông tin về thời điểm lấy mẫu.
Điện áp so sánh để hiệu chuẩn được tạo ra bằng bộ DAC 16 bit trên bản mạch.
Hình 2.15 biểu diễn tín hiệu đọc được khi đầu vào ở mức 0V trong các trường hợp
trước và sau khi chuẩn hóa. Mức nhiễu khi không có tín hiệu đầu vào trong trường
hợp trước và sau chuẩn hóa là rms = 8,4mV (hình 2.16a) và rms = 1,16mV (hình
2.16b).
48
(a) (b)
Hình 2.16 Nhiễu đo được trên kênh của bản mạch DRS4 khi: (a) Chưa hiệu chuẩn;
(b) Đã hiệu chuẩn điện áp.
2.2.2 Xây dựng phần mềm hệ đo
Bắt đầu
Cài đặt các tham số ban đầu
Cài đặt cho bản mạch DRS4
Đặt lệnh chờ xung từ đetectơ
Có xung?
Số hóa xung (1024 mẫu)
Phân biệt dạng xung
Xung
nơtron ?
Tính toán cho phổ nơtron
Hiển thị/ lưu trữ
Tính toán cho phổ gamma
Kết thúc
đo ?
Kết thúc
1
1
2
2
đ
đ
đ
s
s
s
Hình 2.17 Lưu đồ thuật toán chương trình hệ đo nơtron và gamma.
Phần mềm được xây dựng nhằm đồng bộ hóa các hoạt động của phần cứng hệ
đo nơtron và gamma như một thể thống nhất. Các nhiệm vụ chính của phần mềm là
điều khiển phần cứng ghi nhận các sự kiện từ đetectơ EJ-301, phân biệt dạng xung,
49
phân tích/dựng phổ, hiển thị và lưu trữ. Dựa trên cấu trúc phần cứng hệ đo nơtron
và gamma, phần mềm thiết kế cho hệ gồm ba chương trình chính: chương trình
trong FPGA Xilinx Spartan 3, chương trình giao tiếp giữa FPGA và máy tính và
chương trình phân tích/hiển thị trên máy tính.
Hoạt động của phần mềm cho hệ đo nơtron và gamma được khái quát bằng
lưu đồ thuật toán trên hình 2.17. Chương trình bắt đầu bằng việc thiết lập các tham
số cài đặt cho hệ như: số kênh, ngưỡng đo, tốc độ số hóa, v.v.. Cài đặt bộ số hóa
DRS4 nhằm thiết lập chế độ hoạt động của bộ số hóa và xử lý xung. Giai đoạn cài
đặt và thiết lập các thông số cho DRS4, máy tính gửi các lệnh thiết lập đến vi điều
khiển. Vi điều khiển Cy7c68013A gửi các lệnh đến FPGA để thiết lập chế độ hoạt
động cho vi mạch DRS4. Vòng lặp ghi đo bắt đầu bằng lệnh chờ sự kiện xung vượt
ngưỡng từ đetectơ. Khi một xung từ đetectơ xuất hiện có biên độ lớn hơn ngưỡng
cài đặt, DRS4 khởi động chu trình số hóa xung đó. Sau khi được số hóa, số liệu
xung được chuyển về máy tính cho phân biệt nơtron/gamma dựa vào một phương
pháp PSD do người sử dụng lựa chọn. Nếu xung được nhận là nơtron, kết quả được
tính vào phổ nơtron, ngược lại được tính vào phổ gamma. Các thông số tính toán
trên mỗi xung như: biên độ, tham số PSD, v.v. được hiển thị trong chương trình giao
diện trên máy tính.
1) Chương trình cho FPGA
Chương trình cho FPGA Xilinx Spartan 3 có nhiệm vụ chính là điều khiển quá
trình số hóa xung đầu vào. Chương trình này được viết bằng ngôn ngữ VHDL và
cung cấp dưới dạng mã nguồn mở bởi Viện PSI để người sử dụng có thể điều chỉnh
cho phù hợp với ứng dụng [75]. Nếu các xử lý DSP thực hiện trên máy tính, thì các
chức năng cài đặt sẵn trong bản mạch đủ đáp ứng các yêu cầu của hệ đo. Hình 2.18
mô tả lưu đồ thuật toán quá trình số hóa xung được điều khiển bằng FPGA. Quá
trình bắt đầu bằng các thiết lập chế độ làm việc cho DRS4 gồm: tốc độ lấy mẫu, chế
độ quét lấy mẫu và đặt kênh lấy mẫu (ch). Khi nhận lệnh số hóa từ vi điều khiển
Cy7c68013A (VĐK), FPGA cho phép bộ DRS4 nhận xung từ đầu vào. Khi có xung
50
đến, FPGA nhận được tín hiệu trigger và đợi đến khi quá trình nhận xung kết thúc.
Khi quá trình nhận xung trên DRS4 kết thúc, FPGA đều khiển quá trình số hóa lần
lượt cho 1024 mẫu trên DRS4 và lưu trữ vào RAM. Vị trí bắt đầu của mẫu của một
xung trong mảng của DRS4 (TriggerCell) cũng được lưu trữ trong RAM và sẽ được
sử dụng để hiệu chỉnh dữ liệu xung.
Bắt đầu
Cài đặt chế độ cho DRS4
Đặt kênh đọc ch
Cho phép DRS4 nhận xung
Có xung?
Cấm DRS4 nhận xung
Kết thúc
nhận xung
Số hóa mẫu thứ i
Chứa số liệu số hóa vào RAM
i = i+1
1024i
Đọc vị trí bắt đầu của xung
(Read_TriggerCell)
Truyền số liệu số hóa cho
VĐK
Nhận xung?
1
1
s
s s
s
đ
đ
đ
đ
Hình 2.18 Lưu đồ thuật toán quá trình số hóa trên FPGA.
Hình 2.19 trình bày sơ đồ cấu hình cho FPGA trong bản mạch DRS4 nhằm
điều khiển quá trình số hóa cho vi mạch DRS4, lưu trữ số liệu và trao đổi số liệu với
vi điều khiển.
51
Phân
byte
RAM
Điều
khiển đọc
ghi RAM
Điều
khiển đọc
ghi
EEPROM
Điều khiển logic
Giải mã lệnh
ĐK
RAM
Add
EEPROM
Cho phép ghi
Trigger
ĐK đọc ADC
ĐK byte H/L
Chọn kênh DRS4
ĐK bắt đầu ADC
Kết thúc ADC
Chọn kênh DRS4
Kết thúc Domino
DRS4
ADC
AD9245
Data 14 8
8 8
16
RD/WR
RD/WR
Data Data
RD /WR
VĐK
16
Cấu hình FPGA
Hình 2.19 Sơ đồ cấu hình cho FPGA trong bản mạch DRS4.
2) Chương trình cho vi điều khiển
Chương trình cho vi điều khiển Cy7c68013A có nhiệm vụ chính là giao tiếp
giữa FPGA và máy tính thông qua cổng USB. Chương trình thiết lập cấu hình cổng
USB và gửi bảng tóm lược cấu hình cho máy chủ. Có 4 điểm cuối được sử dụng
trong chương trình giao tiếp USB: Điểm cuối 0 (mặc định) sử dụng trong các lệnh
giao tiếp ban đầu khi DRS4 kết nối với máy tính. Điểm cuối số 1-vào/ra - sử dụng
trong các lệnh cài đặt điều khiển đến FPGA. Điểm cuối số 4-ra và điểm cuối số 8-
vào – được sử dụng trong các lệnh truyền và nhận dữ liệu khối. Chương trình cho vi
điều khiển được viết bằng ngôn ngữ C và hoạt động theo cơ chế ngắt. Khi điểm
cuối số 1 nhận lệnh, mã lệnh được giải mã và chuyển đến chương trình thực thi
tương ứng. Các hoạt động chính của chương trình trên Cy7c68013A được mô tả
thông qua lưu đồ thuật toán trên hình 2.20.
52
Bắt đầu
Cài đặt chế độ làm việc (từ PC)
Cài đặt vi điều khiển:
+ Sử dụng đồng hồ nội 30MHz
+ Cho phép ngắt
+ Cho phép đồng bộ
+ Cài đặt bộ đệm FIFO
Cài đặt điểm cuối số 1 (vào/ra)
Cài đặt điểm cuối số 4 (ra)
Cài đặt điểm cuối số 8 (vào)
Điểm cuối số 1 có dữ liệu?
Đọc dữ liệu điểm cuối số 1 vào bộ đệm
Ghi nội dung từ bộ đệm ra điểm cuối
số 1 (ra)
Cài đặt điểm cuối số 8 (vào)
Kết thúc
Kết thúc
1
1
đ
s
s
đ
Hình 2.20 Lưu đồ thuật toán chương trình trên vi điều khiển.
3) Chương trình trên máy tính
Chương trình trên máy tính được xây dựng có nhiệm vụ điều khiển bản mạch
DRS4 ghi nhận các sự kiện nơtron-gamma từ đetectơ, nhận và phân loại các sự kiện
nơtron/gamma và tính toán dựng phổ nơtron/gamma. Các hoạt động chính của
chương trình trên máy tính được mô tả trên sơ đồ thuật toán hình 2.21.
53
Hình 2.21 Lưu đồ thuật toán chương trình trên máy tính.
Hoạt động của chương trình được mô tả như sau: Khi bản mạch DRS4 được
kết nối, chương trình khởi động các tham số mặc định và chờ lệnh từ máy tính. Để
ghi nhận một xung từ đetectơ, máy tính sẽ gửi một lệnh đến bản mạch, bản mạch sẽ
chờ đến khi có sự kiện xuất hiện; xung được tự động số hóa với chiều dài 1024 mẫu
[73]. Khi quá trình số hóa kết thúc, chương trình máy tính đọc dữ liệu số hóa từ bộ
đệm để xử lý. Dữ liệu số hóa mỗi kênh đọc được là một mảng chứa 1024 mẫu, với
độ phân giải 14 bit. Mỗi mảng dữ liệu biểu diễn cho một xung đo từ đetectơ, mang
thông tin về điện áp theo thời gian của xung. Do các xung từ đetectơ là xung dương,
nên vùng đo của các kênh vào được đặt trong dải điện áp (-0,05 ÷ 0,95 V). Khi đó
giá trị điện áp tính theo biểu thức (2.6).
0,05
65536
N
v (2.6)
54
Trong đó: N là giá trị của mẫu; v là giá trị điện áp tính theo vôn (V).
Bảng 2.4 Giá trị đọc được tương ứng với điện áp trong hai chế độ điện áp vào.
Dải điện áp
đầu vào
Tương ứng:
Giá trị điện áp (V) số N
Giá trị điện áp
(mV)
0,05 ÷ 0,95 V
-0,05 0
0,95 65535
0,01253 50N
-0,5 ÷ 0,5 V
-0,5 0
0,5 65535
0,01253 500N
Từ các xung số hóa nhận được, chương trình sử dụng các phương pháp phân
biệt dạng xung để nhận biết xung nơtron và gamma. Mỗi xung sau khi xử lý có hai
tham số được lưu trữ: biên độ - tương ứng với năng lượng bức xạ bị hấp thụ trong
đetectơ và tham số nhận dạng xung PSD - để nhận dạng xung là nơtron hay gamma.
Các sự kiện sau khi phân loại là nơtron hoặc gamma sẽ được tích lũy vào phổ
nơtron hoặc gamma tương ứng.
4) Phát triển chương trình cho hệ đo nơtron và gamma (MCA_DRS4)
Chương trình MCA_DRS4 được xây dựng trên phần mềm LabVIEW, kết hợp
với các thư viện liên kết động được xây dựng trên phần mềm Visual C++.
MCA_DRS4 được xây dựng gồm 3 phần chính: cài đặt các tham số, ghi nhận các
xung và xử lý xung, dựng phổ. Các hàm giao tiếp phần cứng giữa máy tính với
DRS4 thông qua giao diện USB được xây dựng dựa trên các hàm được cung cấp
trong gói công cụ NI-VISA cùng với LabVIEW.
Giao diện chương trình được thiết kế gồm ba phần chính: cửa sổ chính hiển thị
phổ đo và phổ phân biệt nơtron/gamma, phần hiển thị các thông tin chung và menu
người dùng. Từ cửa sổ chương trình, người dùng có thể thiết lập các phép đo nơtron
và gamma, đồng thời cung cấp các thông tin về tốc độ đo, thời gian đo, thời gian
chết, v.v. của phép đo.
55
Hình 2.22 Các khối mã chương trình cài đặt, truyền/nhận dữ liệu và các phương
pháp PSD.
Hình 2.23 Menu chương trình chính.
Hình 2.24 Giao diện cửa sổ chính của chương trình MCA_DRS4.
Menu của chương trình: cho phép thiết lập các chế độ hoạt động của chương trình
đồng thời đưa ra các thông tin cần thiết của hệ đo. Menu chính được thiết kế gồm
các mục: File, Hardware configuration, Setting, Operate, Calibrate, ROI và
56
Help. Phần cửa sổ hiển thị phổ gồm ba cửa sổ được lựa chọn bởi Tab: Total
Spectrum - hiển thị phổ tổng gồm cả nơtron và gamma đo được, Nơtron/Gamma-
ray Spectrum: hiển thị phổ nơtron và phổ gamma trên hai cửa sổ riêng và PSD
Methods: hiển thị phổ PSD của nơtron – gamma của các phương pháp. Phần hiển
thị thông tin chung được thiết kế gồm: các thông tin về thời gian, thông tin về số
đếm và các thông tin về vị trí đánh dấu trên phổ.
Các cài đặt chính từ menu của chương trình:
+ Cài đặt cấu hình phần cứng: bao gồm việc thiết lập vùng điện áp đầu vào, nguồn
trigger, số kênh đo và tốc độ số hóa.
Hình 2.25 Một số thiết lập phần cứng hệ đo.
+ Setting: gồm việc cài đặt thời gian
Các file đính kèm theo tài liệu này:
- luan_an_thiet_ke_che_tao_he_tach_xung_notron_va_gamma_su_dun.pdf